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仪器介绍：
DZ3320A 差热分析仪在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。
仪器性能优势：
1.仪器主控芯片采用ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更稳定。
2.采用USB双向通讯，操作更便捷。
3.采用7寸全彩LCD触摸屏，界面更友好。
4.采用镍铬合金传感器，更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。
技术参数：
| 温度范围 | 室温~1150℃ |
| 量程范围 | 0～±2000uV（可以拓展） |
| DTA灵敏度 | 0.01uV |
| DTA精度 | 0.1 |
| 升温速率 | 0.1～100℃/min |
| 温度分辨率 | 0.01℃ |
| 温度准确度 | ±0.1℃ |
| 温度重复性 | ±0.1℃ |
| 温度控制 | 升温：程序控制 可根据需要进行参数的调 整 恒温：程序控制 恒温时间任意设定 |
| 炉体结构 | 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作 |
| 气氛控制 | 内部程序自动切换 |
| 数据接口 | 标准USB接口 配套数据线和操作软件 |
| 显示方式 | 24bit色 7寸 LCD触摸屏显示 |
| 参数标准 | 配有标准物，带有一键校准功能，用户可自行对温度进行校正 |
| 基线调整 | 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线 |
| 工作电源 | AC 220V 50Hz（可定制其它规格） |
