CPS纳米粒度仪是基于差示沉淀法对颗粒粒度进行测量和分析。样品被注入到高速旋转的液体中，然后在离心力的作用下，样品被快速沉降，由检测器记录不同颗粒的沉降时间。由于液体为具有多层密度差的梯度液，可将同时沉降的所有粒子做更精细的排列分层沉降。再利于激光光源及检测器，来检测小至纳米级的粒子，这样达到纳米至微米级粒径分布分析的检测。并获得高精确度及高解析度的分析结果。

　　CPS纳米粒度仪使用高速离心圆盘将颗粒在液体介质里分离开。颗粒在的沉降稳定过程是由于液体介质中颗粒的密度梯度形成的。有别于传统方法，通过差示离心沉降原理为颗粒的精细区分提供新的解决方案。同激光散射和颗粒计数法等方法比较，该方法有非常高的分辨率。该产品具有多样化的功能，可以监测动力学过程；提供标准的体积和数量分布的结果。具有较高的分辨率，优良的灵敏度和重复性。可以提供颗粒系统粒径、形状和浓度等方面的总体信息。