X荧光光谱仪成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域的检测设备，大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，X荧光光谱仪 具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。

　　X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。

　　X荧光光谱仪的优点：

　　1、分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，10～300秒就可以测完样品中的全部待测元素。

　　2、X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定。

　　3、非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。

　　4、X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

　　5、分析精密度高。目前含量测定已经达到ppm级别。

　　6、X荧光光谱仪制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。