Park XE15大样品台工业原子力显微镜概述：
Unique MultiSample™ scan boosts research productivity
Park XE15能够一次性扫描和测量多个样品，让您的效率一高再高。您只需要将样品放入工作台，再启动扫描程序便可。该功能也可以让您在相同的环境条件下扫描样品，从而提高数据的准确性和稳定性。
Large sample size increases possibilities
与大多数的原子力显微镜不同，Park XE15可扫描大尺寸为200 mm x 200 mm的样品。这样既满足了研究员对扫描大样品的需求，也让故障分析工程师能够扫描硅片。
Features adaptable to any need
Park XE15配有绝大多数的扫描模式，可扫描各种尺寸的样品。得益于此，Park XE15是共用实验室的配置，能够满足每个人的需求。
Park XE15大样品台工业原子力显微镜技术信息：
使用MultiSample™扫描进行方便的样品测量
Park XE15 MultiSample™ scan system- 一次性自动多样品成像
- 特别设计的多样品卡盘，可装载多达16个样品
- 全机动XY轴样品台，行程范围达150 mm x 150 mm
借助电动样品台，MultiSample™扫描模式能够允许用户自行编程，借助自动化步进扫描，实现多区域成像。
流程如下：
1.记录用户定义的多个扫描位置
2.在d一个扫描位置成像
3.提升悬臂
4.将电动样品台移至下一个用户定义坐标
5.探针接近
6.重复扫描
记录多个扫描位置十分简单，您可以输入样品-样品台坐标或使用两个参考点校正样品位置。该自动化功能大大减少您在扫描过程中需要的工作，大大提高了生产力。
通过消除串扰进行准确的XY扫描
Park Systems的*串扰消除(XE)扫描系统能够有效解决上述问题。我们使用了二维柔性平台专门扫描样品的XY轴位置，并通过压电叠堆传动装置专门扫描探针悬臂的Z轴位置。用于XY轴扫描的柔性平台采用了固体铝材，其具有超高的正交性和出色的平面外运动轨迹。柔性平台可在XY轴扫描大型样品（1 kg左右），频率z高达100 Hz左右。由于XY轴的带宽要求远低于Z轴的带宽要求，因此该扫描速度已然足够。用于Z轴扫描的压电叠堆传动装置具有大的推拉力和高共振频率（约10 kHz）。
二维柔性平板扫描仪，扫描范围为10 µm x 10 µm
XY轴扫描器含有对称的二维柔性和高强度压电叠堆，可在保持平面外运动少的情况下，实现高正交运动以及纳米级样品扫描下的高响应度。紧凑且坚固的结构是为了低噪声高速伺服回应而设计的。
柔性High Force Z扫描仪
凭借着高强度压电叠堆和柔性结构，其可以允许扫描器以更高的速度纵向移动，这是传统原子力显微镜中扫描器所无法做到的。大Z轴扫描范围可从标准的12 µm增至40µm（选购远距离Z轴扫描器）。
滑动链接SLD
燕尾式轨道设计，轻松更换原子力显微镜镜头。借助超辐射发光二极管(SLD)的低相干性，显微镜可成像高度反光表面和精密测量pico-Newton力对距光谱。此外，超辐射发光二极管的波长也解决了干扰问题，让用户可随意在可见光谱实验中使用原子力显微镜。
多样本卡盘
特别设计的多样品卡盘，可装载多达16个样品，可由MultiSample自动扫描模式按序扫描。借助*的镜头设计，用户可从侧面轻易操作样品和探针。
无障碍样品架
*的镜头设计可扫描尺寸高为100 mm的样品，且可轻易从侧面更换样品和探针。
手动XY样品台
在手动XY轴样品台的控制下，样品的测量定位变得简单。XY轴样品台的行程范围是13 mm x 13 mm。
手动光学平台
同轴镜头可手动调焦。
扫描模式
可扩展的AFM解决方案
支持Park行业中广泛的SPM模式和选项
现如今，研究院需要描述不同测量条件和样品条件下的各类物理性质。Park Systems带来业内多的扫描探针显微镜模式、多的原子力显微镜选择和兼容性和升级性，让样品*的表征扫描变得简单。
