搜索历史
西班牙Sensofar共聚焦白光干涉仪、泽攸台式电镜&台阶仪&原位分析、徕卡等光学显微镜、RMC超薄切片机、Linkam冷热台
泽攸透射电镜原位MEMS加热/电学测量系统
泽攸透射电镜原位MEMS加热/电学测量系统,透射电子显微镜是提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。 参考价面议泽攸透射电镜原位MEMS低温电学测量系统
泽攸透射电镜原位MEMS低温电学测量系统,是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块,实现低温电学测量或全温区测量功能。 参考价面议泽攸透射电镜原位MEMS液体电化学测量系统
泽攸透射电镜原位MEMS液体电化学测量系统,采用全新的O圈辅助密封设计,更易封装液体。实验中,样品被密封在很薄氮化硅薄膜覆盖的液体池内,池内可以承载一个大气压。芯片电极联通外接电路,从而在电镜中搭建一个液体-电化学测试环境。 参考价面议泽攸透射电镜原位MEMS气氛加热测量系统
泽攸透射电镜原位MEMS气氛加热测量系统,在透射电子显微镜中制造气氛及高温环境,实现1 Bar & 800 ℃的端观测条件。 参考价面议泽攸透射电镜原位STM-TEM电学测量系统
泽攸透射电镜原位STM-TEM电学测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量 参考价面议泽攸STM-TEM力电一体测量系统
泽攸STM-TEM力电一体测量系统 是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量 参考价面议泽攸STM-TEM光电一体测量系统
泽攸STM-TEM光电一体测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量 参考价面议泽攸透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统
泽攸透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统 ,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量 参考价面议泽攸透射电镜原位高温力学测量系统
泽攸透射电镜原位高温力学测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量。 参考价面议泽攸MEMS-STM-TEM多场测量系统
泽攸MEMS-STM-TEM多场测量系统,原位透射电子显微镜实验系统,使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境(包括力、热、光、电等)。 参考价面议泽攸干式液氦温区探针台 LHe-6H-06
泽攸干式液氦温区探针台 LHe-6H-06产品特点,真空腔体:真空度优于610-4 Pa。降温后优于610-5 Pa。留有2个用户法兰接口(KF40可接入气体或者额外的电缆)。 参考价面议泽攸室温自动探针台 TZ-H-06
泽攸室温自动探针台 TZ-H-06,高可靠性探针台系统,主要应用在半导体/微电子, 电子,机电,物理,化学,材料,光电,纳米,微机电/MEMs,生物芯片等科学研究领域,以及IC设计/制造/测试/封装、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生产制造领域。 参考价面议