薄膜测厚仪的技术特征介绍   

薄膜测厚仪，又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等，薄膜测厚仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度准确测量。采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度准确测量。

技术特征

1、严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制

2、测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差

3、支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择

4、实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断

5、配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性

6、系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果

7、系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看

8、支持Lystem?实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告