薄膜测厚仪的几大主要特点描述
时间：2023-06-06 阅读：1210
薄膜测厚仪用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同，常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。
非接触式测厚仪的测量原理：使用两个激光传感器安装在被测物（纸张）上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标的厚度值。
技术特点：
◆ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持用户的各种非标定制
◆ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差
◆ 设备支持自动和手动两种测量模式，方便用户操作选择
◆ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定
◆ 实时显示测量结果的*大值、*小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
◆ 配置标准0级量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性
◆ 设备采用微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作
◆ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。