立讯精密采购三台英飞思X荧光光谱仪设备用于镀层分析和RoHS检测
时间:2022-09-08 阅读:939
8月下旬,立讯精密相关负责人,技术人员来我司考察仪器,送样品检测。我司技术人员详细介绍了仪
器的参数,应用,解释了客户针对性的各种问题。客户提供的几种样品检测分析后,我司仪器给出的各项
数据指标都准确合格。立讯精密在和其他厂家对比仪器各项性能指标价格后,于9月初选择英飞思的能量色
散X荧光光谱仪--镀层分析仪和RoHS检测仪,用于产品的镀层,镀液检测分析,RoHS检测分析,为产品
质量牢牢把关。
英飞思镀层测厚仪/膜厚仪
微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域,实现高精度测量。
>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
>高分辨率样品观测系统
精确的点位测量功能有助于提高测量精度。
>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量
配合用户友好的软件界面,可以轻松地进行日常测量。
英飞思RoHS检测仪
1-一键式自动测试,使用更简单,更方便,即使非技术人员也能快速上手
2-采用美国AmpTek最新型Si-pin/SDD探测器,电致冷技术,体积小、数据分析准确且维护成本低。
3-采用自主研发的探测器信号增强处理系统,提高信噪比,达到实验室级别低1ppm检出限。
4-八种光路准直系统,根据不同样品大小自动切换。最小0.2mm准直器可以用于样品微点测试,检测光斑更小,射线能量更集中。内置高清CCD摄像头,能清晰地显示仪器所检测的样品部位
5-采用7位滤光片自动切换系统,不同滤光片可有效提高不同基体中元素的检测下辖
6-多重防辐射泄露设计,辐射防护级别属于同类产品高级
7-*一体化散热设计,使整机散热性能得到极大提高,提高核心部件使用寿命
8-的芯温控技术,保证X射线源的安全可靠运行,降低使用成本
9-可定制化报告,可以自由设定元素检测限,软件自动标示超标元素(Fail/Pass)
10-多重仪器硬件保护系统,并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全
11-优化了Cl,Cr等元素的检测,大大提高了低含量Cl和Cr元素的测试灵敏度和稳定性,为用户的无卤分析提供了更精准的检测方法
12-可拓展应用:镀层厚度分析,八大重金属分析,合金成分分析