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高纯气体中杂质含量色谱分析

时间:2021-08-13      阅读:1852

GC3500氦离子化气相色谱仪,配有VICI高灵敏度氦离子化检测器(PDHID)

和配套的脉冲高压电源、氦气净化器。仪器设置有带有载气吹扫保护的四阀多柱分析系统。对各种

超纯气体具有前组分切除、中心组分切割、后组分排空的通用性分析功能。针对不同被测气体,配置适用的

多柱系统,就可实现对各种超纯特种气体中有关PPb级痕量杂质的检测。

 

产品特点

·成套进口的PDHID氦离子化检测器、脉冲高压源、氦气净化器、保证了最高检测灵敏度及稳定性;

·带有被测样品的前组分切除、中心组分切割、后组分吹扫排空的多柱分析系统,对各种分析样的适应性强;

·带有载气吹扫保护功能并可恒温控制的十通、六通、四通阀。

·预柱与分析柱单独分开温控,便于调试、便于获得最佳分离分析条件。

·具有进样系统预冲洗系统,使进样准确度高、稳定性快、使取样气体用量少、防止了环境空气中O2、N2的干扰。

·具有电脑反控和10/100M以太网通信接口及内置工作站,可实现远程监管。

 

PDHID对六种气体(杂质)组分的检测限(PPb)

杂质种类

H2

O2

N2

CO

CH4

CO2

PDHID

15

5

5

10

5

10

 

PDHID对五种气体(杂质)组分的检测限(PPm)

杂质种类

Ne

SO2F2

(硫酰氟)

S2OF2

(亚硫酰氟)

S2OF10

(十氟一氧化二硫)

SF6

(六氟化硫)

PDHID

4

28

40

33


 



GC-3500 氦离子化气相色谱仪

GC-3500氦离子化气相色谱仪适用于高纯氢、氧、氩、氮、氦、氖、氪、氙、二氧化碳等气体中痕量杂质的检测,仪器配备高灵敏度的脉冲氦离子化(PDHID)检测器,采用中心切割与反吹技术,配置具有吹扫保护气路的进样切换阀和进口氦气纯化器,通过无死体积取样或在线进样方式,一次性完成上述高纯气体中H2、O2(Ar)、N2、CH4、CO、CO2等常见杂质或C1-C4等碳氢化合物的检测,检测限达ppb级,重复性RSD≤1%。上海立谱精密仪器有限公司

 

一、适用标准:

GB/T3634.2-2011 《纯氢、高纯氢和超纯氢》  GB/T 14599-2008《纯氧、高纯氧和超纯氧》
GB/T 8979-2008《纯氮、高纯氮和超纯氮》    GB/T 4842-2006《氩》
GB/T 4844-2011 《纯氦、高纯氦和超纯氦》   GB/T 17873-1999《纯氖》
GB/T 5829-2006《氪气》    GB/T 5828-2006《氙气》
HG/T 3633-1999《纯甲烷》      GB 10621-2006《食品添加剂  液体二氧化碳》
GB/T 23938-2009 《高纯二氧化碳》 GB/T 28125.1-2011《空分工艺中危险物质的测定》

 

二、技术参数:

1、检测限(ppb):

一般杂质

杂货种类

H2

O2(Ar)

N2

CH4

CO

CO2

检测限

5

10

10

5

25

5

 

碳氢化合物

杂质种类

C2H4

CH4

C2H2

C2H6

C3H6

C3H8

C4H8

C4H10

iC4H10

检测限

20

5

10

20

20

20

20

20

20

 

2、温控指标:

 柱箱:室温上8℃-400℃   精度±0.1℃

 进样器:室温上8℃-400℃   精度±0.1℃

 检测器:室温上8℃-400℃   精度±0.1℃

 温控数量:六路

 程序升温:九阶

 升温速率:1℃~40℃

 降温速度:7分钟以内(350℃到50℃)

 

3、氦离子化检测器(PDHID):

 上海立谱精密仪器

 放电模式:脉冲放电

 基线噪声:≤0.1mv

 基线漂移:≤0.5mv/30min

 检测限:≤1.0×10¯10g/ml

4、载气纯化器:

 可纯化气体:He、Ar、Ne、Kr、Xe、Rn

 最大操作压力:1000Psi

 去除气体:H2、O2、N2、CO、CO2、CH4、H2O、NO、NH3、CF4等

 残留浓度:≤10ppb

 

三、系统配置:

(1)GC3500氦离子化气相色谱仪       

(2)脉冲氦离子化检测器(PDHID) 

(3)氦气纯化器 
(4)标准气体
(5)专用色谱柱及阀串联系统  
(6)载气专用减压阀  
(7)色谱工作站


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