为了研究植物生长、产量和品质与光能利用的关系，需要调查植物冠层中的光能资源，测量植物冠层对光的截获量。  在不成熟的过去，研究人员很难对技术进行测量和分析，这往往需要大量的时间和精力。  如今，随着科学技术的发展，冠层分析仪已经被研究人员很好的使用。  从实际应用来看，该仪器仍然可以发挥很大的作用。  

首先，我们来说说直接测量和间接测量是如何进行的。  直接测量是测量所有叶片的叶面积，然后计算LAI。因为要测量的叶片都要剪掉，所以大部分都是破坏性测量，或者至少会干扰冠层和叶角的分布，从而影响数据的质量。直接测量费时费力。  间接测量是利用冠层结构与冠层内辐射和环境相互作用的耦合关系，通过冠层分析仪测量植物冠层的相关数据，通过植物冠层的传输模型推断LAI。  

冠层分析仪通过处理图像数据文件，如叶面积指数、光照间隙、间隙分布等，获得冠层结构。  通过分析辐射数据的相关信息，可以计算出冠层截获的PAR和冠层以下的辐射水平。  因此，与直接测量法相比，利用冠层分析仪测量冠层数据可以避免直接测量法带来的大规模破坏植被的缺点。而且使用仪器进行测量操作具有方便、快捷、不受时间限制、获取数据量大等优点，非常适合现代农业科研。目前，冠层分析仪广泛应用于农业、园艺、林业的栽培、育种和植物群体比较与发展的研究和教学中，并在实际应用中发挥了作用。