冷热台可与同步辐射X射线散射、傅里叶红外光谱仪、偏光显微镜联用，用于表针不同温度下样品的结构检测。冷热台温控范围为-190℃～350 ℃ ，可满足诸多用户的应用需求。

　　冷热台是可以使用显微镜载物片载样，且容易使用的设备。样品放置在载物片上，载物片直接放置在抛光的加热元件上且可以进行15mm的X、Y方向移动。样品腔室是气密的，气体阀可以控制腔室内的环境，即惰性气体或湿度。

　　冷热台结合研究级岩相学显微镜使用，可以直接原位观察在加温或冷冻过程中样品(如：流体包裹体、熔体包裹体)相态的变化，测定相变温度，进而获得相关的物理化学参数。

　　冷热台使用方便、重复性好、温度精确。多种样品载台可以分析固体和液体样品。使用石英坩埚可以从侧门导入样品，避免打开顶盖、重新聚焦并节省时间。使 用不锈钢环载台需要打开热台顶盖放入样品。

　　冷热台可应用于半导体研究、液晶测试、化学等方面，能够精确控温，它的表面很平，适于做相关研究。真空型冷热平台多数应用于物理、半导体、电子工程、硅片等方面。冷热台黑色的台体可以避免反光，适合集成在各种光路中，符合诸多用户的应用需求。