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场发射扫描电子显微镜的分辨率要高于光学显微镜的分辨率

时间:2022-06-13      阅读:603

   场发射扫描电子显微镜利用电子成像,类似于光学显微镜使用可见光成像。由于电子的波长远小于光的波长,所以电子显微镜的分辨率要高于光学显微镜的分辨率。它是用细聚焦的电子束轰击样品表面,通过电子与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等对样品表面或断口形貌进行观察和分析。SEM已广泛应用于材料、冶金、矿物、生物学领域。
  
  通常人眼能够分辨的最小距离为0.2MM,为了观察分析更微小的细节,人们发明了各种观察仪器。首先出现的是光学显微镜,它利用可见光作为照明束照射样品,再将照明束与样品的作用结果由成像放大系统处理,构成适合人眼观察的放大像。一般而言光学显微镜能分辨的最小距离约为200um,是人眼的一千倍。
  为突破光学显微镜的分辨极限,人们想到用电子束做照明束,并与上个世纪三十年代制造出了第一台扫描电子显微镜。它的分辨率已经达到了原子水平(≈0.1um),比光学显微镜提高了近两千倍。
  
  场发射扫描电子显微镜检测范围:
  1、金属、陶瓷、高分子、矿物、半导体、纸张、化工产品的显微形貌观察及材料的晶体结构、相组织分析;
  2、各种材料微区化学成分的定性定量检测;
  3、粉末、微粒、纳米样品形态观察和粒度测定;
  4、机械零件与工业产品的失效分析;
  5、镀层厚度、成分与质量测定;
  6、生物、医学和农业等领域。
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