1.分辨率：SEM的分辨率通常在纳米至亚纳米级别，比TEM要稍低一些，但对于样品表面形态和结构的观察和分析，已经足够应用于许多领域。

 

　　2.样品要求：由于扫描电子显微镜是在真空条件下进行操作的，因此样品必须是干净的、不易挥发的、导电性强的，如金属、陶瓷或者没有太多的表面草酸盐的非金属材料，但这个限制已经不是很大的问题，因为有很多方法可以用于处理样品的电导性和表面清洁。

 

　　3.成像模式：TEM在成像时是通过成像镜头在样品内部进行成像的，而SEM则是通过电子束扫描在样品表面进行成像。SEM的扫描模式分为两种，一种是图案成像模式，类似于电视屏幕的成像方式，每次扫描一个图案进行成像；另外一种是逐行成像模式，类似于传统电子显微镜，但只扫描样品表面，成像时需要对样品进行一定程度的运动以获得整个样品表面的图像。

 

　　4.成像信息：SEM可以提供样品表面形貌及其微观结构、表面元素成分和形态分布等更为具体的信息，而TEM则可以提供样品内部的微观结构信息。

 

　　总之，场发射扫描电子显微镜作为一种*的显微技术，越来越得到广泛的应用，不仅在物理学、化学、材料学等基础科学研究中，还在医学、生物学、电子工程、环境保护和地球科学等领域中发挥了重要作用。