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C1216M-AT薄膜测厚仪带软件Filder 1.0
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面议随着对高质量现场表面测量需求的增长,带导块测善不再满要求,而是被无导块测量代替,特别是P轮廊和波纹度参数量,无导块测量尤其重要。MarSurf M 400 实现了即使复杂的测量工作,亦能容易处理自动置零取代了复杂的手动置零,按开始键后仪器自动国参冲马上开始测量。测量室以及生产领域都越来越需要无导块扫描的表面评估。这通常需要更熟练的操作员,更多时间和更多调整工作。MarSurf M400 在“移动表面度量”范围内提供了必要的功能,而且快速、简单易用。移动和固定测量仪器。
MarSurf M 400 粗糙度和波纹度测量
※扫描长度高达 26 mm
※超过 50 R,W 和 P 表面参数
※根据标准自动选择截止和扫描长度
※动态校准功能
※驱动装置和评估仪器之间可选有线和蓝牙连接 (4 m)
※磁性测头支架(独立测头)BFW 250
※机动测头归零设置(大 7.5 mm)
SD 26驱动器与BFW-250测头
.带高精度测头的无导块取样(1)
·磁性测臂基座保证快速更换测臂
(2, 3, 4)
·保护测臂免遭损坏
·仅需要数秒的设定时间
在驱动器调整高度的同时自动置零
·采用蓝牙和评估单元无线连接
·拥有操作向导,显示屏清晰明,操作简单
·拥有外部和内置电源
·拥有ISO, JIS, ASME标准的多种参数,
内置多种语言
·内置高打印质量的热敏打印机,可输出轮廓和结果
·提高测量速度,保持单测量取点密度不变
MarSurf M 400 应用:
※机器建造----轴承、轴、支架、阀门
※汽车工业---转向、刹车系统、变速箱、机轴、凸轮轴、气缸盖、气缸体、涡轮增压器
※钢铁工业---测量金属板表面、测量辊表面
※医疗---髋关节和膝关节内用假体的表面粗糙度测量
※航空---涡轮组件
通过配合使用MarSurf附件,可快速,简便地把便携式测量仪扩展成测量工作站。
通过调节驱动器和测试工件位置可快速,简单实现有坡度的工件测量。
MarSurf M 400能评价所有P, W和R轮廓的参数。
技术参数 | |
测量原则 | 探针法 |
输入 | BFW 无导块系统 |
测量范围 mm | +/- 250 µm(高达 +/- 750 µm,3x 测杆长度) |
轮廓分辨率 | 测量范围 +/- 250 µm:8 nm 测量范围 +/- 25 µm:0.8 nm |
过滤器符合 ISO/JIS 标准 | ISO 11562 标准高斯滤波 ISO 13565 标准滤波 |
采样长度数量符合 ISO/JIS | 1-5 |
接触速度 | 0,2 mm/s; 1,0 mm/s |
测量力 (N) | 0.75 mN |
重量驱动单元 | 约 0.9 kg |
重量测量仪 | 约 1.0 kg |
表面参数 | 超过 50 种符合当前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓 |
MarSurf M 400 标准配置:
MarSurf SD 26 驱动装置包含 BFW 250 测头系统、标准测杆 (6852403)、1 卷热敏纸、宽范围电源装置,带 3 个适配器、2 x USB 线(用于连接计算机和有线连接)、操作说明、提供便携手提箱.