DM5E测厚仪常用探头技术

超声波测厚仪DM5E G/DM5E/DM5EDL常用探头技术数据

DM5E 和 DM5E DL 都能进行 Dual Multi 测量（穿过涂层测量）。实 际上，要进行厚度测量的所有组件和结构都将带有某种保护涂 层。使用传统方法进行测量时，这些涂层（包括油漆）大大增加 了底层金属厚壁测量的误差。此外，去除涂层以及以后再加上涂 层也会花费相当多的成本和时间。使用经过现场验证的 Dual Multi 功能就无需去除任何保护涂层。它只需要选择 Dual Multi 模式，将 探头放在相应位置进行测量。

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