钨灯丝扫描电镜的用途分析
时间：2023-10-30 阅读：868
用途：
形貌观察：通过钨灯丝扫描电镜可以观察样品的表面形貌，如表面粗糙度、颗粒大小等。
显微结构分析：钨灯丝扫描电镜可以观察样品的显微结构，如晶粒大小、晶界清晰度等。
断口形貌分析：对于断裂的样品，钨灯丝扫描电镜可以观察其断口形貌，分析断裂原因。
成分分析：钨灯丝扫描电镜可以通过电子束与样品的相互作用，产生各种物理信息，如X射线、俄歇电子等，从而进行成分分析。
失效分析：对于失效的样品，钨灯丝扫描电镜可以观察其显微结构和断口形貌，分析失效原因。
应力分析：通过钨灯丝扫描电镜可以观察样品的应力分布，如残余应力、工作应力等。
相分析：钨灯丝扫描电镜可以观察样品的相组成，如固溶体、化合物等。
织构分析：对于晶体材料，钨灯丝扫描电镜可以观察其晶体取向和织构类型。
划痕分析：对于表面处理样品，钨灯丝扫描电镜可以观察其划痕形貌，分析表面处理效果。
尺寸测量：钨灯丝扫描电镜可以测量样品的尺寸，如长度、宽度、高度等。