日本日置电阻计RM3545概述

微电阻计的使用方法：接触电阻的测量(低电流电阻测量)

连接器的接触电阻和用于小信号的继电器的接点电阻的低电阻测量方法分别按照JIS标准和IEC标准来制定。可以使用电阻计RM3545进行对应的低电流电阻测量(干电路测试)。为了不破坏接触部分的氧化物层，可以在开路端子电压20mV以下、测试电流1mA以下进行0.1μΩ～1kΩ的测量，适用于接触电阻检查。

微电阻计的使用方法：对热电动势的影响进行补偿

低阻测量中由于不同金属的连接部分所产生的电压(热电动势)不同，有时会导致测量值不稳定。电阻计RM3545具备对热电动势的影响进行补偿的“偏置电压校正(OVC)功能"。适用于对如汇流排焊接部分这类低电阻进行测量。

4端子测量电阻率

使用RM3545，可使用损耗较小的4端子方法来测量电阻率。

日本日置电阻计RM3545特点

★ 基本精度0.006%，樶小分辨率0.01μΩ，樶大测量电流1A
★ 可测范围0.00μΩ(测试电流1A)~1200MΩ
★ 使用多路转接器单元Z3003(选件)可进行多点测量(4端子20ch)和可综合判断的多路转接器功能(仅限RM3545-02)
★ 开路端口电压20mV以下的低功率电阻测量
★ 高速支持自动化判别，从测量开始到判断输出*快2.2ms