快来解锁引线框架工艺品控新助手！
时间：2023-09-08 阅读：200
引线框架是半导体封装的基础材料，是集成电路的芯片载体，借助于键合焊丝（金丝、铝丝、铜丝）实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接，形成电气回路的关键结构件，起到和外部导线连接的桥梁作用。
引线框架在生产环节，需要对电镀液的成分含量进行测定，这既是为了保证电镀质量达到工艺要求，也是为了合理使用电镀用的贵金属，控制生产成本。因此，电镀液的快速准确检测，对提高生产效率和降低成本至关重要。
作为X射线分析仪器生产厂家，赛默飞世尔科技的ARL QUANT'X X射线荧光光谱仪，不仅在硬件配置上性能优异，而且对于“引线框架电镀液成分检测”的要求，开发了有针对性的解决方案，并在引线框架行业的头部企业中得到了应用和认可。针对不同客户的电镀液配方，ARL QUANT'X X射线荧光光谱仪能够生成相应的分析检测方案。在空气分析环境中，它可以在短时间内（通常10-30秒）快速分析出电镀液中贵金属元素的含量，且检测结果准确稳定，可以克服镀缸中随时加入药剂引起的基体波动，满足半导体引线框架行业的高标准分析需求。
X 射线系统
X 光管采用先进的端窗发射管，最大限度地提高了X-射线的发射强度（相较侧窗发射提高10% 的强度）
高压电源采用数字控制系统，仅在采谱时激发光管（不采谱则不激发），从而有效提高X-光管的使用寿命，并保证了分析数据长期稳定（相较持续激发光管的方式，可延长X-光管使用寿命4-6 倍）
探测器系统
优异的分辨率不仅提高了对于轻元素的检测能力，而且降低了元素谱线重叠对检测造成的干扰（Mn、Ka 分辨率优于 140eV）
6 级电制冷技术可以使探测器快速进入稳定状态（开机后2 分钟即可执行测样），并且能够保持探测器晶体的温度稳定，确保了探测的长期稳定性
超大面积的晶体活性尺寸（>30mm2）确保了元素分析范围的宽度，超出常规的晶体厚度 （1mm）使得针对痕量重元素的探测具有优异的灵敏度
采用先进的全数字脉冲处理器技术，大幅度提高信号采集效率，有效降低本底噪声，提高痕量元素的检出能力
10 位和20位的自动进样器可批量分析标准的液体样，减少人工操作，提省检测效率。支持样液体品杯、粉末压片、气溶胶和滤膜
定量分析功能
采用UniQuant 无标样分析技术，在少标样和完全无标样的情况下，仍然可以出色完成对于复杂多样类型样品的定量分析
应用案例展示
使用赛默飞最新型号的ARL QUANT'X EDXRF，在空气条件下即可建立各种电镀液的分析方法。
优异的曲线线性度
Ni、Au、高浓度Ag、低浓度Ag和Pd元素的工作曲线情况如下
良好的结果一致性
从生产线随机取不同时间段的Ni、Au、高浓度Ag、低浓度Ag和Pd电镀液，分别在ICP和QUANT'X上进行测试。得到表1~5中的结果对比表。结果显示EDXRF测试值和ICP测试值一致性非常好。
稳定的检测重复性
表6~10为Ni、Au、Ag、Pd电镀液的稳定性测试结果表。结果显示EDXRF测试各种电镀液的稳定性极佳。
