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EXTREL_APIMS-痕量大气压离子质谱仪
•实时、多组分监控所有大宗电子气中的关键杂质包括痕量
O2, H2, H2O, CH4, CO, CO2, NH3, Xe等
•久经考验、性能强大的质谱技术
•通过配置的双离子源,覆盖从PPT到100的分析量程范围。
•通过集成可视化的用户界面实现自动标定功能,操作非常简单。
•专业的客户服务和应用支持团队
EXTREL_APIMS-痕量大气压离子质谱仪产品描述
•可靠的超纯气体生产和供应
•一台分析仪分析所有杂质
•全自动,实时杂质报警功能
•可靠的24/7工艺保护
•晶圆产能
VeraSpec APIMS不仅分析速度快、灵敏度高,而且操作简单,可用于连续监控氮气、氩气、氦气、氧气和氢气的供应需求。通过对ppt级别杂质的快速响应大程度保护电子制造工艺。
拥有Extrel VeraSpec APIMS,保护您的半导体生产
超纯气对半导体设备生产非常重要。通过对超纯气纯度的连续监测可以确保半导体设备的产能。其被杂质污染后的代价是非常昂贵的。
半导体工厂需要连续实时监测工艺气的纯度,杂质的检测限至低ppt级别。
要达到如此低的检测下限,方式就是应用大气压离子质谱仪。在20多年里,APIMS已经被应用在科学研究和检测工业在线微量气体的标准技术。
基于四极杆技术的Extrel VeraSpec APIMS系统能检测的气体含量和气体组分范围非常宽泛。同时仪器的长期稳定性、重复性是大多数应用所必须要求的。
为了追求优的性能、稳定性和运行时间,在半导体气体分析领域,Extrel 是运用19mmTri-filter四极滤质器的质谱仪生产商。