菲希尔校准片测厚仪可用江苏办事处

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我们常说的50，100都是标称值，实际数值会有上下波动，以膜片标签为准。

校准膜片厚度为22μm左右，实际数值以膜片标签为准。

校准需要有下面几项东西：底材（形状和底材物料要与待测部件*）和一片标准片(仪器随机的75 µm左右标准片)。说明：校准将删除内存中的所有读数。

校准仪器（前提：仪器必须打开）

1.按[CAL]键。

"Base" (即 “未镀过的底材”)

2.在底材上测量五次左右.每次测量后，会显示当前的读数。

3.按[OK]键. 

显示 0.00 和STD1 (即校准标准片 # 1).

4.把校准标准片放在底材上，并测量5次左右。每次测量后，屏幕上会显示当前读数。

5.用[▲] 或[▼]键调整第4步的未尾一个数值至标准片的标称值，如“75 µm”。标准片的标称值注明在标准片上。

6.按 [OK]键。 

菲希尔Dualscope MP0测厚仪特性：

由于极为耐用的仪器构造，即使在简陋的环境条件下也可进行可靠的测量

借助两个独立枢轴与发光显示屏，即使在难以触及的测量点也可进行简单操作

测量符合标准，具有适用于 IMO PSPC 与 SSPC-PA2 的特殊模式

由于设备的结构紧凑以及直观的单手操作概念，可快速、重复进行准确测量

Dualscope MP0测厚仪应用：

PERMASCOPE用于钢和铁上的涂镀层

ISOSCOPE用于铝和其他非铁磁性金属上的涂镀层

DUALSCOPE用于钢、铝和其他非铁磁性金属上的涂镀层，无需更换仪器

非铁磁性金属、铁或钢上的微米级涂镀层

钢铁上由非铁磁性金属制成的厚涂层或保护涂镀层

在 XAN 220, XAN 222, XAN 250和XAN 252上，您现在可以更高精度和更快速度完成测量。与GOLDSCOPE SD 520和SD 550，这些仪器都配备了*由Fischer自主研发的最新数字脉冲处理器DPP+。通过将新处理器与同样新获得的拥有更大有效面积(50 mm²)的硅漂移探测器相结合，可获得并处理更多的信号，同时还能保证能量分辨率。因此，您的收益是：最多可缩短2/3的测量时间，或者减少绝对标准偏差最高达45%。