SURTRONIC3+仅手掌大小，可携带到任何需要测量表面粗糙度的地方。设计探头支架可轻易使探头和被测工件表面稳定接触。内置电池驱动，在操作过程中微型电源。测量通过按键控制，采用菜单选择方式，简单易行。测量结果可输出打印，或与DPM数据处理器连接。测量值在行程结束后2秒钟自动显示。可选择多种探头和附件以满足各种形状工件的测量。

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC3+技术参数

• 测量范围：±150um

• 分辨率：10.0nm

• *大行程长度：25.4mm

• 测量参数：Ra、Rq、Rzdin、Ry、Sm、Tp

• 测量精度：2%+LSD祄

• 输出：打印机，可打印测量条件、测量结果和图形

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC3+探头

1. 标准探头-- 用于一般测量，测尖半径5um

2. 小孔探头-- 用于小孔槽和狭小平面

3. 小槽探头-- 测量深大5.5mm的O型环槽和狭槽

4. 沟槽探头-- 测量深大5.7mm和25mm的沟槽底部或台阶底部

5. 直角探头-- 在与行程方向成直角的方向上测量

6. 侧面导块探头-- 用于测量例如齿面等曲面