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FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM
FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM，能量色散X射线荧光光谱仪，自动进行材料自动分析和镀层厚度的无损测量，采用ISO 3497和ASTM B 568标准； 参考价面议 -
X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500 ，通用手持式X射线荧光分析仪，即使材料组合困难复杂的情况下，也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准 参考价面议 -
FISCHERSCOPE X-RAY XAN
FISCHERSCOPE X-RAY XAN，根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析，镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光光谱仪 参考价面议 -
菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XUL 和 XULM
菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XUL 和 XULM，根据DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度 参考价面议 -
泰勒霍普森VA900 视觉光电自准直仪
VA900 具有优秀的量程和分辨率，精度为1 角秒，因而此系统在分度头的测量与标定和其它角度测量装置如棱镜和测角仪等应用中备受欢迎。泰勒霍普森VA900 视觉光电自准直仪 参考价面议 -
TA60 视觉光电自准直仪泰勒霍普森代理
TA60 视觉光电自准直仪泰勒霍普森代理，TA60是一种经济实惠的双轴测微尺自准直仪，量程大而且分辨率高。体积小、功能强大、适合装夹等特点，使其很容易的适用于多种不同的应用领域。 参考价面议 -
泰勒霍普森TA51 视觉光电自准直仪
泰勒霍普森TA51 视觉光电自准直仪，TA51 具有大量程和高测量精度，因而此系统在分度头的测量与标定和其它角度测量装置如棱镜和测角仪等应用中备受欢迎。 参考价面议 -
泰勒霍普森棱镜和多面棱体自动测量系统
泰勒霍普森棱镜和多面棱体自动测量系统，为了成功的应用到各种行业中，生厂商对棱镜的制造加工精度和公差要求愈加严格。 参考价面议 -
泰勒霍普森新型超高精度自准直仪
泰勒霍普森新型超高精度自准直仪，超级自准直仪的高精度版本-新型超高精度自准直仪。 参考价面议 -
泰勒霍普森准直仪
泰勒霍普森准直仪，泰勒霍普森推出的高度灵活的超双轴数字自准仪采用了最新CCD技术, 在一系列应用的基础上具有高精准度和稳定的测量性。并且安装了触屏操作平板电脑以及简洁的操作软件。 参考价面议 -
泰勒霍普森非接触式轮廓仪LUPHOScan 850 HD
泰勒霍普森非接触式轮廓仪LUPHOScan 850 HD，LUPHOScan 850 HD被设计用于对非球面透镜、球面、平面和轻微自由曲面等旋转对称表面（光学器件）进行超高精密非接触式三维表面形状测量。 参考价面议 -
轮廓仪LUPHOScan 260/420 HD
轮廓仪LUPHOScan 260/420 HD，LUPHOScan HD非接触式三维光学轮廓仪可对高偏差非球面和自由曲面等具有挑战性的表面的半径和不规则度进行最高精度的非接触式三维轮廓测量。 参考价面议