GB/T 12085.11-2010光学和光学仪器  环境试验方法第11部分∶长霉

1  范围

本部分规定了长霉试验用的菌种，试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。本部分不适用于常规生产检查。

本试验目的是研究长霉对试样的光学、化学、机械和电气的工作性能的影响程度，以及估价霉菌代谢产物（比如酶或酸性物质）导致对零件的腐蚀程度或引起线路板的短路等严重程度。

2  规范性引用文件

下列文件中的条款通过GB/T12085的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。

GB/T12085.1  光学和光学仪器环境试验方法  第1部分∶术语  试验范围（GB/T12085.1—2010,ISO 9022-1:1994,MOD)