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菲希尔X射线测厚仪XAN215代理

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产品简介

菲希尔X射线测厚仪XAN215代理，高性能X射线荧光测量仪，配有先进的硅漂移探测(SDD)，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。

菲希尔X射线测厚仪XAN215代理

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY特点:

◆ 具有通用应用特性的高级模式

◆ 4 倍电子调节光圈（准直仪），6 倍电子调节初级滤光镜

◆ 配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD) 的型号还适用于更复杂的多元素分析

◆ 由下至上的测量方向可以简便地实现样品定位

典型应用领域:

◆ 对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能层进行分析

◆ 示踪原子法分析为消费者提供保护，例如，玩具中的铅含量

◆ 在珠宝行业和手选工段中高精度要求的金属合金鉴定

◆ 在高校和工业领域中的研究

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