SURTORNIC S116粗糙度仪泰勒

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S116无锡骏展仪器技术参数

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S116无锡骏展仪器数据显示 ：

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S116无锡骏展仪器显示屏每页显示7个测试结果，屏幕上可显示轮廓图（剖面图）

可以打印测试结果和图形

使用Talyprofile软件可以连接电脑，分析测试结果

数据存储

仪器可以存储100个测试数据和一个图形

仪器支持U盘zui大4G，zui多可存储39,000个图形，每批可存储10万个测试结果，共70批数据。

使用Talyprofile软件与电脑连接可以存储无限数据。

电源：

充电器

USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

充电时间

4小时

电池寿命

充电一次可以做2000次测试

待机时间

5000小时,由待机状态到开机测试状态，zui长时间不超过1秒I

自动关机

30秒– 6小时可以自行设置

技术指标

测量范围

400 um 100 um 10 um

分辨率

50 nm 20 nm 5 nm

底噪(Ra

150 nm 100 nm 50 nm

重复精度 (Ra)

1%测试值+底噪

传感器原

电感

测量力

50-300mg

测针针尖半径

标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin)

测试方式

滑动扫描

自动软件校准

标准：ISO4287

测试参数

三个取样长度

0.25mm、0.8mm、2.5mm

二个滤波器

2CR、Gaussian

评定长度

0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选

zui大行程

17.5mm

测试速度

测试速度

1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度

1.5mm/sec(0.06in/sec)

执行标准

ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO标准可以测量12个参数

Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME标准可以测量11个参数

Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

ASME标准可以测量12个参数

Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

ASME标准可以测量13个参数

R3z (Daimler Benz)

ASME标准可以测量14个参数

um/uin