FISCHERSCOPE XDL210 X射线

菲希尔X射线测厚仪Fischer代理比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。zui多可同时测量从氯（17）到铀（92）中的24 种元素。

XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。

XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。

菲希尔x-ray射线镀层测厚仪典型的应用领域有：

测量大规模生产的电镀部件

测量薄镀层，例如装饰铬

测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

全自动测量，如测量印刷线路板

分析电镀溶液

菲希尔x-ray射线镀层测厚仪设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际应用的需求。