SPECTRO MIDEX　不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构，海关商检、造币工业等，还可完成其它分析任务如：非破坏性检查，贵金属分选，电子线路及电气元件的分析等。

技术规格
 

仪器操作简便、直观。可在原位进行有效的“失效分析”。

*性:

 

X射线管和检测器系统*的几何设计使其能够分析以前无法触及的样品表面。如:环形样品的内表面。

激发源
● Mo靶的X光管
● 风冷
● zui大功率：30W
● zui高电压：50kV
● 测量点尺寸：0.7mm

样品室
● 长：520 mm(20.5 '''')
● 宽：310mm(12'''')
● 高:160 mm(6.3'''')
● 样品放大成像系统
● 手动样品台或固定样品用多轴向夹具
● 符合严格的ξ3 R?V(德国X射线标准)辐射防护标准

计算机
● 台式Pentium™ 计算机
● Windows™操作系统
● 键盘和鼠标
● 显示器
● 打印机

软件
● 菜单式软件，光谱仪参数调整和数据评估及计算

检测器
● 电致冷（Peltier 冷却）的Si漂移半导体计数器
● 以Mn Kα线，在测量计数率为1000脉冲计数时,能量分辨率为:FWHM<150 eV
● 微处理器控制的检测器和读出电路

其它规格
● 电压:100 -127或，200-240V,50/60 Hz,2.6/1.0A
● zui大处尺寸:
长:540mm(21’’)
宽:420 mm(16.5’’)
高:560 mm(22’’)

底座尺寸:
长:540mm(21’’)
宽:360 mm(14’’)
重量:40kg (88 lbs.)