电镜扫描，即扫描电子显微镜（ScanningElectronMicroscope，简称SEM）的工作原理，可以详细分为以下几个步骤：

　　电子源产生电子束：

　　扫描电镜中的电子源通常采用热阴极发射电子的方式，如热丝或者热发射阴极。

　　当电子源受到加热时，电子会从阴极表面发射出来，形成电子束。电子源的温度和电流可以调节，以控制电子束的强度和稳定性。

　　电子束的加速和聚焦：

　　电子束经过加速电场，使其获得足够的能量。

　　然后，通过电磁透镜系统（可以是磁透镜或电透镜）对电子束进行聚焦，以获得较小的束斑尺寸。聚焦系统的作用是使电子束尽可能地细致和聚焦，以提高分辨率。

　　电子束与样品的相互作用：

　　将要观察的样品放置在扫描电镜的样品台上，并调整样品的位置和倾斜角度。

　　当电子束照射到样品表面时，它与样品中的原子和分子相互作用，产生多种信号，包括二次电子、背散射电子、散射电子、透射电子、特征X射线等。这些信号提供了关于样品表面形貌、成分和结构的信息。

　　信号的检测和处理：

　　扫描电镜使用多种探测器来收集这些信号，并将其转换为电信号。

　　收集到的信号经过放大、滤波、增益等处理后，可以转换为数字信号，并通过计算机处理和显示。

　　影像的生成和显示：

　　电信号经过处理后，通过计算机系统生成样品的影像。

　　这些影像可以以黑白或者彩色的形式显示在显示器上，供操作者观察和分析。

　　成像原理：

　　扫描电子显微镜是利用材料表面微区的特征（如形貌、原子序数、化学成分、或晶体结构等）的差异，在电子束作用下通过试样不同区域产生不同的亮度差异，从而获得具有一定衬度的图像。

　　成像信号主要是二次电子，它们能够反映样品表面形貌差异的信息，即微观形貌像。此外，背散射电子像可得到不同区域内原子序数差别的信息，即组成分布像；特征X射线分析则可以对特定的某微区元素做定性和定量的化学成份分析。

　　总结来说，扫描电子显微镜的工作原理是通过电子束与样品表面的相互作用，收集产生的各种信号，经过处理后转换为图像，从而获取样品表面的详细信息。这种技术具有高分辨率、大景深、动态观察等优点，广泛应用于材料科学、生物学、纳米技术等领域。