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新标准像质计 X射线探伤配件
一、产品简介：·像质计能测定射线底片的灵敏度，根据在底片上显示的像质计的影像，可以判断底片影像的质量，并可评定透照技术、胶片暗室处理情况、缺陷检验能力等。·像质计通常用与被检工件材质相同或对射线吸收性能相似的材料制作。·像质计中设有一些人为的有厚度差的结构如槽、孔、金属丝等，其尺寸与被检工件厚度有一定关系。·射线底片上的线型像质计影像可以作为一种性的证据，表明射线透照检测是在适当条件下进行的，但线型像质计的指示数值并不等于被检工件中可以发现的自然缺陷的实际尺寸。二、技术参数·符合NB/T 47013-2015国家标准·规格：等径6～16号
