FETS-2000b薄膜铁电性能综合测试仪
FETS-2000b 薄膜铁电性能综合测试仪具有动态电滞回线(DHM)、I-V特性、脉冲(PUND)、静态电滞回线(SHM)、疲劳(FM)、漏电流(LM)、电流-偏压、保持力(RM)、印迹(IM)的测试功能.,可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。 参考价¥100000FETS-2000铁电综合测试系统 TSDC/TSC测试
FETS-2000是一款扩展灵活的铁电综合测试系统 TSDC/TSC测试,既可以测试变温电滞回线计算储能密度,并具有测试热刺激电流TSDC/TSC的功能。可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。 参考价¥100000FETS-2000高压漏电流测试
FETS-2000高压漏电流测试既可以测试电滞回线计算储能密度,并具有测试高压漏电流的功能。可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。 参考价¥100000FETS-2000变温铁电测试系统
FETS-2000变温铁电测试系统可用于高低温环境下材料铁电性能测试中测试信号的输出和反馈信号的收集,可进行电滞回线测试、漏电流测试、疲劳测试、电击穿强度测试、小信号电容测试、PUND测试、印痕测试、保持力测试等铁电性能的检测,另外还有压电测试、介电测试、电阻率测试、电容充放电测试需配合另外升级选件实现。 参考价¥100000FMET-1000功能材料电学性能测试系统铁电测试
FMET-1000功能材料电学性能测试系统铁电测试与高压放大器、阻抗分析仪、样品测试盒配套使用,可以完成铁电、介电、压电、电卡效应、TSDC/TSC、热释电、绝缘电阻等电学测试,与高温温控装置、变温综合测试平台、高低温探针台配套使用,可实现电学性能参数自动变温测试。 参考价¥100000VTPD-3000变温极化装置、超低温试验箱
VTPD-3000变温极化装置/超低温试验箱用于样品制备中的极化工序,可实现宽温区范围内任意温度下的样品极化,一次可极化多个样品,多路同时极化时,一个样品击穿不影响其他样品的极化,每路可设置不同的极化电压和极化时间。取样和放样时,高压切断,确保试验安全。极化过程中,实时监控每路样品的极化电流,每路具有独立的电流显示,有助于用户找到适合的极化条件。 参考价¥10000PDTS-3000高低温准静态压电系数高温d33测试系统
PDTS-3000高低温准静态压电系数高温d33测试系统即可低温测试d33系数,又可以高温测试d33系数,具有测量精度高、温区宽、自动调零和校准等特点。 参考价¥100000PDTS-600高温d33测试系统
PDTS-600高温d33测试系统采用准静态法完成高温变温条件下d33的自动测量,具有测量精度高、温区宽、自动调零和校准等特点。 参考价¥60000CCDM-2000变温电容充放电测试系统
CCDM-2000变温电容充放电测试系统用于研究电容的高电压充放电性能,集控制器、高压电源、信号采集器于一体,具有过阻尼、欠阻尼、疲劳等测试功能,配有高压击穿保护模块。系统自动采集充放电过程样品两端电压变化,并直接给出储能密度,具有集成度高、操作方便、测量精度高等特点,与VTMP400变温综合测试平台配套使用,可实现最大温度范围-160 ~ 260 ℃内的变温测试。 参考价¥80000CCDM-1000高温电容充放电测试系统
CCDM-1000高温电容充放电测试系统用于电介质的高电压充放电性能,集控制器、高压电源、信号采集器于一体,具有过阻尼、欠阻尼、疲劳等测试功能,配有高压击穿保护模块。系统自动采集充放电过程样品两端电压变化,并直接给出储能密度,具有集成度高、操作方便、测量精度高等特点,与高温温控装置配套使用,可实现最大温度范围RT ~ 200 ℃内的变温测试。 参考价¥40000CCDM-1000电容充放电测试仪
CCDM-1000电容充放电测试仪用于研究电容的高电压充放电性能,集控制器、高压电源、信号采集器于一体,具有过阻尼、欠阻尼、疲劳等测试功能,配有高压击穿保护模块。系统自动采集充放电过程样品两端电压变化,并直接给出储能密度,具有集成度高、操作方便、测量精度高等特点。 参考价¥20000DPTS-2000E高温介电温谱偏压介电测试系统
DPTS-2000E高温介电温谱偏压介电测试系统适用于高温环境下电介质材料的介电可调谐性能的测试,系统软件拥有完善的测量和分析功能,可测量介电常数、介电损耗随电场E、温度T、频率f的变化规律,从而得到介电常数,介电可调度tunability、介电损耗、优化因子FoM等与电场E、温度T的关系曲线。 参考价¥50000