【化工仪器网 展会报道】2024年3月22日，第十八届慕尼黑上海光博会在上海新国际博览中心圆满落幕。作为亚洲激光、光学、光电行业盛会，本届展会汇聚近1200家光电企业，展示众多创新产品和解决方案，探讨光电产业的未来发展方向。上海赛可检测设备有限公司(SEC)也携带重磅产品亮相展会现场，吸引了众多业内人士的目光。
 

SEC展台
 

　　上海赛可检测设备有限公司(SEC)是一家专业从事扫描电子显微镜和X-RAY检测设备研发与生产的公司，总部位于韩国水原市。自1991年创立以来，SEC公司已经历了30多年的发展历程。从创业初期的自动化生产设备，到现在的扫描电镜和X射线检测设备，SEC公司凭借其持续的研发和技术创新，不断突破自己，成为具备全球影响力的检测设备提供者。其产品广泛应用于电子配件、半导体封装等领域，为这些领域的内部缺陷监测和分析提供了有效的解决方案。
 

现场观众前来咨询
 

　　在本次展会上，SEC着重推出了其最新研发的SNE-Alpha台式扫描电镜及X-RAY检测设备X-eye SF160 F/N Series。这两款产品具有高精度、高稳定性等特点，受到了现场观众的一致认可。
 

　　超高分辨率台式扫描电镜 更强大的性能 更人性化的操作体验
 

SNE-Alpha台式扫描电镜
 

　　SNE-Alpha是SEC于2023年推出的全新一代超高分辨率台式扫描电镜，在之前多款SNE系列台式扫描电镜的基础上升级了产品性能和操作系统，并提供了更丰富的扩展功能。
 

　　在性能上，SNE-Alpha放大倍率可达25万倍，比同级别的产品更高，同时通过全新的高精密电子光学系统，获取高质量图像，实现了超高分辨率。SNE-Alpha还配备高精度五轴全自动样品台，可实现迅速位移并准确找到样品位置。其超快的真空系统也优于同级别的其他产品，进一步提高了工作效率。
 

　　在操作系统上，SNE-Alpha搭载第三代操作软件，具备强大的自动功能，任何人均可简单操作，在短时间内轻松获得高质量图像。在扩展功能上，SNE-Alpha提供颗粒物自动分析、3D粗糙度分析和超大视野拼图软件等丰富的功能，能够满足不同用户的多样化需求。
 

　　此外，SNE-Alpha的设计小巧紧凑，可在狭窄的空间内安装使用，进一步提高了空间使用率，帮助用户节约实验室空间。
 

　　X-RAY检测设备 实现高分辨率3D检测
 

X-eye SF160 F/N Series
 

　　SEC的RAY相关技术处于行业前沿，本次在展会现场展示的X-eye SF160 F/N Series是SEC推出的新品，主要用于半导体，电子产品，封装等产品精密分析用非破坏性检测设备，最大可实现550 x 650mm尺寸的产品不良检测。
 

　　该产品搭载高性能Micro-focus Open Tube (160kV)的高性能检测设备，可实现高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。用户可根据需求选择Dual CT功能(Oblique CT,Cone-beam CT)进行3D影像检测，分析出不良的种类、位置及大小。此外，该产品可搭载Option自动检测S/W，通过手动装料后的自动检测，可实现产品全检；还可搭载长寿命Filament，适用于量产检测。
 

　　不断挑战 不断突破
 

　　SEC意为“Superior Service & Exciting Challenge”，公司在各个方面为用户提供高质量的服务，并为满足用户的需求而不断进行改进和挑战。随着科技的不断进步和市场的日益扩大，高精密电子工业检测设备的需求也在不断增加。SEC将继续发挥其在研发和生产方面的优势，为全球用户带来更多惊喜和突破。