赛默飞高级产品市场经理Jay Jordan博士为大家带来题为Accelerate actionable data for prompt fab process improvement using the Helios EXL（使用 Helios EXL 加速获得驱动型数据迅速改进生产工艺）的主题Webinar，详细介绍赛默飞近产线晶圆级FIB如何助力工艺改进和良率提升，加速产品上市。

（Webinar时长约50分钟）

通过Webinar，相信您已经更了解先进半导体制造给缺陷和失效分析带来的挑战，并且意识到赛默飞近产线FIB工作流程可以帮助您和您的企业化繁为简。