1. 二极管测量

如果被测物体是二极管，在阳极和阴极之间连接设备驱动电源，设定施加电压的最大值Vmax和最小值Vmin，电源会自动将它们之间的电压调整到某个频率50Hz 至 60Hz 扫频。另外，测量此时流过二极管的电流。

另一方面，CRT的水平扫描电路使用驱动半导体器件的电源电压作为输入信号，垂直扫描电路使用流过二极管的电流作为输入信号，使得电流可以在CRT上表示相对于施加电压的特性(VI特性)。

2. 晶体管测量

对于双极晶体管/FET 测量，使用阶跃发生器的电流/电压源连接到基极/栅极。在发射极/源极和集电极/漏极之间连接器件驱动电源，并设置施加电压的最大值Vmax和最小值Vmin。

对于双极晶体管

，可以通过使用阶跃发生器分阶段改变基极电流并在CRT上显示发射极-集电极电压和集电极电流来绘制晶体管的静态特性曲线。

对于 FET：

当使用步进发生器逐步改变栅极电压时，会绘制 FET 的静态特性曲线，显示源漏电压和漏电流之间的关系。