晶圆片表面检测灯半导体表面瑕疵检查灯 表面检查灯厂家 黄绿光/白光检查灯

wafer晶圆颗粒缺陷检查灯185LE-AL系列是一款黄绿光表面检查灯（或者是白光），又叫半导体目检灯，检测灯的原理利用适合的LED灯源，通过光学镜片折射出特殊波长的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作员肉眼可识别出工件表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵点，取代传统的照明设备和光学系统机台，直接通过照明光线和肉眼，观测出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，极大的节省了一般工厂的采购成本。 PS-PH40，YP-250I表面检查灯采用人眼敏感510-590NM之间波长光，来做简单与明确的判别，可检查到1um以下的刮痕或微粒子，并且具有绿光和黄光2种颜色的复合光，几乎可检测出尘埃，大大降低产品不良率。使用寿命为2万小时以上。光源强度可达30万LX，可以检测1μ的表面脏污，比传统的表面检查灯，效用增强10倍PSVLX1-F5016半导体目检灯可根据使用场景，使用便携手持式或桌面式（上在底座上即可）。

由于没有闪烁并且没有眼睛疲劳，所以电子照明方法提高了可加工性。可以自由地进行调光，并可以选择佳条件。通过采用柔性臂，可以自由调节光源的角度。可以在无尘室中使用。可以使用安装支架分离光源。连续照明时，灯泡寿命为10,000小时。它可以切割500 nm或更短的波长，并且该波长不会给人眼造成负担，因此使其成为视觉检查光源的佳波长。

半导体晶片不管是自主加工生产还是外购，都要对其外表进行缺陷瑕疵检查，避免瑕疵品在投入使用，从而导致成品成为不合格产品。上海峰志仪器有限公司用于半导体晶片表面缺陷瑕疵检查灯以及测试系统主要技术指标如下：
1、测试精度：可检测出1um以下的缺陷瑕疵
2、光源：人眼易于察觉的绿光和黄光2种颜色的复合光
3、检查系统带工业相机，可拍摄瑕疵点
4、样式灵活，可手持式和桌面放置解放双手
5、可调节灯光照射范围