关联显微镜 加速决策蔡司工业显微镜电子行业解决方案

蔡司能够提供与电子行业应用相关的各种显微镜产品组合，不同类型的显微镜覆盖了从微米到纳米不同尺度的观察范围，同时覆盖了表面二维以及三维的成像与分析。借助X射线显微技术以及FIB 技术，能够实现对电子产品从有损到无损的高分辨观察与分析。在这里，您能获得一站式的显微产品解决方案。

低倍大视野下的外观检查

更高变倍范围的外观检测

表面超景深高分辨3D成像

金相切片的观察与测量

表面微纳结构三维与粗糙度测量

日常检测与失效分析(SEM)

低电压高分辨纳米级成像与分析(FESEM)

用于截面制备、透射制样以及线路修补(FIB）

更快获取高质量横截面的新方法(Laser-FIB)

无损亚微米级内部三维成像

实验室显微镜数据的互联与共享