思仪6433P光波元件分析仪产品简介

6433P光波元件分析仪是面向高速电光器件、光电器件及光光器件调制特性测试的仪器，频率范围覆盖10MHz~110GHz，集成电电测试、电光测试、光电测试及光光测试4种测试模式，具有对数/线性幅度、相位、群时延、Smith圆图、极坐标等多种显示格式，能够精确测量光电网络的幅/相频特性，主要应用于高速电光器件（电光强度调制器、直接调制激光器、光发射组件）、光电器件（探测器、光发射组件、探测器芯片）及光光器件（光衰减器、EDFA）的带宽、幅/相频、群时延等频响参数的测试。

典型应用

单端光器件测试

针对电光调制器、直接调制激光器等电光器件的S11参数和S21参数测试，利用多窗口显示可快速获取测试对象的各频点反射和传输特性；针对光电探测器、ROSA、TIA集成组件等光电器件的S22参数和S21参数测试，利用光标功能可快速分析3dB带宽，评估器件的频响特性；针对光纤滤波器等光光器件的S21参数测试，可快速实现损耗、平坦度等指标的测量。

利用仪器提供的多种显示模式,可实现相位、群时延等信息的显示，可快速实现相频特性等指标的测量。

平衡光器件测试

光波元件分析仪通过配置四端口机型，实现平衡光发射或光接收器件对差分增益和共模抑制参数的测试需求，更加贴合现有和未来高速光纤通信领域中多端口参数的测量场合。

光芯片在片测试

6433P光波元件分析仪搭配探针台及高频探针，可实现电光/光电芯片的频响参数的测试。

自动化测试

6433P光波元件分析仪提供标准的SCPI程控指令集，方便用户进行远程控制。通过网口，只需完成设备的互联，发送命令即可实现一体化的自动测试方案，方便用户将光波元件分析仪与温控、数字源表及被测件等共同搭建光芯片测试系统。

思仪6433P光波元件分析仪技术指标