微量分析天平的基本原理和使用
时间:2024-08-15 阅读:786
微量分析天平是一种高精度的测量设备,专门设计用于测量微小质量的天平,广泛应用于需要高精度称量的领域,主要用于测量非常微小的质量值,通常具有高精度和高灵敏度。
基本原理:
微量天平通过电磁力平衡原理工作,利用县挂点的弹性力与电磁力相平衡来测量物体的质量。具体来说,当被测物体放置在天平的秤盘上时,天平的传感器会产生形变,这个形变通过杠杆机构传递到磁钢,磁钢产生位移又引起磁感应强度变化,进而改变线阻抗,导致电路电流变化。这个电流的变化值与被测物体的质量成正比,通过测量这个电流的变化量,就可以得到被测物体的质量值。
选购:
根据实际需求选择合适的精度和量程。
考虑天平的稳定性、重复性、易用性等因素。
选择品牌可靠的供应商,确保产品质量和售后服务。
使用:
将天平放置在稳定的工作台上,避免振动或气流影响。
避免被测物体受到额外压力或摩擦力,以免影响测量结果。
遵循先开天平后加物的原则,避免损坏天平的传感器或测量系统。
定期清洁天平的秤盘和传感器保持基清洁干燥。