日本rst-eng电阻计测试仪高精度内置电路
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日本rst-eng电阻计测试仪高精度内置电路

1101S日本rst-eng电阻计测试仪高精度内置电路

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11000 100

具体成交价以合同协议为准
2024-10-08 19:38:47
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产地类别:进口;类型:其他;应用领域:环保,能源,电子,电气,综合;
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环保,能源,电子,电气,综合
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深圳秋山工业设备有限公司

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产品简介

日本rst-eng电阻计测试仪高精度内置电路 1101S

容抗氧化帘电阻测量
即使测量单元中心的接触电阻(接触压力)为100Ω,也可以进行高精度测量。
测量部分必需的内置接触检查电路

详细介绍

日本rst-eng电阻计测试仪高精度内置电路 1101S 特点介绍


容抗氧化帘电阻测量

即使测量单元中心的接触电阻(接触压力)为100Ω,也可以进行高精度测量。

测量部分必需的内置接触检查电路

这使得可以测量容易形成氧化膜的电极部分的电阻值。测量值以 4 1/2 位显示,测量范围为 100Ω 至 19.999MΩ。

除了使用内置数字比较器确定 HI、GO 和 LO 外,如果在 4 端子测量过程中任何端子由于某种原因接触不良,也会显示接触错误。

如此丰富的内置功能,该设备真正称得上是可靠的测量仪器。


日本rst-eng电阻计测试仪高精度内置电路 1101S 特点介绍


0.0001kΩ~1.9999kΩ5毫安

20kΩ0.001kΩ~19.999kΩ500μA

200kΩ0.01kΩ~199.99kΩ50μA

2兆欧0.0001MΩ~1.9999MΩ5μA

20兆欧0.001MΩ~19.999MΩ0.5μA

测量时间

工频外部启动自由奔跑

60赫兹68.7毫秒15次/秒

50赫兹82毫秒12.5次/秒

*上述测量时间包括接触检查功能操作(约1毫秒)。

控制

信号输入 测量开始信号 集电极开路输出(光隔离)40Vmax 200mA。

输出 测量结束信号

判断输出(HI、GO、LO)

接触错误输出

BCD数据

输出系统 测量值 BCD 并行输出

打印指令输出

测量方法

4端子测量法

展示

4 1/2 位 0000~19999

接触检查判断值

接触电阻值为100Ω以上时,输出接触错误

输入输出

范围输出扇出 2

使用环境

0°C 至 50°C(温度)85%(湿度)以下

尺寸

250(宽)x 85(高)x 244(深)毫米(不包括橡胶脚等突出部分)



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