日本fujiwork薄膜测试仪连续测厚机高精度 FT-A200H/FT-A200HR 特点介绍

具有高精度测量头和放大器单元的机器。

只需放置从生产线上切下的薄膜，即可轻松连续地测量厚度。

FT-A200 测量范围/10μm 至 200μm

FT-A200R 测量范围/3μm 至 100μm

测量分辨率/0.01μm

日本fujiwork薄膜测试仪连续测厚机高精度 FT-A200H/FT-A200HR 规格参数

●重复精度/0.05微米*1●测定分辨率/0.01微米●直线性/+/-0.2%*测量头精度●测量范围/FT-A200H:10μm～200μm※2 FT-A200HR:3μm～100μm※2●可变更测量压力/0.3N（标准）测量压力●主体、放大器单元、测量头的构成

●输出/模拟和RS232C●寸法/260（H）x 300（W）x 309（D）mm*本体部●重量/约10kg*本体部●电源/AC100V●可选/·专用软件·数据记录器·更换用测量器·个人电脑·图表打印机

●重复精度/0.2微米*1●测量分辨率/0.1微米●测量精度/1μm以下※测量头精度●测量范围/10微米～500微米*2●测量压力/0.45～0.25N●紧凑型设计（内置显示器）