日本katsura位移倾斜传感器高精度测量评估
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日本katsura位移倾斜传感器高精度测量评估

VH-1100日本katsura位移倾斜传感器高精度测量评估

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8520 100

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2024-10-12 21:37:58
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应用领域:环保,能源,电子,电气,综合;
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深圳秋山工业设备有限公司

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产品简介

日本katsura位移倾斜传感器高精度测量评估 VH-1100

可用于测量和评估安装在智能手机等中的自动对焦(AF)执行器VCM。
通过使用镜面目标,可以同时测量位移(Z)和倾斜(θX-θY)。
测量数据以模拟 (±5V) 形式输出,允许以 10kHz 采样。

详细介绍

日本katsura位移倾斜传感器高精度测量评估 VH-1100 特点介绍


可用于测量和评估安装在智能手机等中的自动对焦(AF)执行器VCM。

通过使用镜面目标,可以同时测量位移(Z)和倾斜(θX-θY)。

测量数据以模拟 (±5V) 形式输出,允许以 10kHz 采样。

倾斜 (θX-θY):±60 分钟(圆周范围)

位移 (Z):±1.5 毫米

工作距离:60±0.5 毫米

外部尺寸:W125 x D150 x H56 毫米

输出更新率:10,000 次/秒


日本katsura位移倾斜传感器高精度测量评估 VH-1100 规格参数


VH-1100

主要规格

测量范围

倾斜 (θX-θY):±60 分钟(圆周范围)

位移 (Z):±1.5 毫米

工作距离:60±0.5 毫米

外部尺寸:W125 x D150 x H56 毫米

输出更新率:10,000 次/秒

除了使用激光进行自准直仪角度测量之外,还可以同时测量位移(X、Y、Z)和旋转角度的测量仪器。

隆重推出可实时捕捉一切的创新产品。这些创新产品将您的测量概念提升到一个新的水平。

此外,我们还将介绍一种利用干涉的镜头波前像差测量装置。

可用于测量和评估安装在智能手机等中的自动对焦(AF)执行器VCM。

通过使用镜面目标,可以同时测量位移(Z)和倾斜(θX-θY)。

测量数据以模拟 (±5V) 形式输出,允许以 10kHz 采样。


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