日本napson电阻率测试仪半导体/导电薄膜用 EC-80 特点介绍

非接触涡流法电阻率和方电阻手动测量仪

一种简单的测量装置，只需将样品放置在探头之间即可进行测量。

在电阻率和方块电阻测量模式之间轻松切换

使用 JOG 旋钮轻松设置测量条件

测量目标

半导体能电池材料相关（硅、多晶硅、SiC等）

新材料/功能材料相关（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等）

导电薄膜相关（金属、ITO等）

化合物半导体相关（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）

日本napson电阻率测试仪半导体/导电薄膜用 EC-80 规格参数

非接触涡流法电阻率和方电阻手动测量仪

一种简单的测量装置，只需将样品放置在探头之间即可进行测量。

在电阻率和方块电阻测量模式之间轻松切换

使用 JOG 旋钮轻松设置测量条件

测量目标

半导体能电池材料相关（硅、多晶硅、SiC等）

新材料/功能材料相关（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等）

导电薄膜相关（金属、ITO等）

化合物半导体相关（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）

非接触涡流法电阻率和方电阻手动测量仪

一种简单的测量装置，只需将样品放置在探头之间即可进行测量。

在电阻率和方块电阻测量模式之间轻松切换