日立镀层测厚仪

X-Strata920 是一款简洁、坚固和可靠的质量控制 XRF 台式荧光系统，用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。X-Strata920 可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定（如珠宝鉴定）等行业，完成单层或多层厚度测量。

主要特点包括：

▪ 成本低、快速、非破坏的 EDXRF 分析

▪ 可完成至多 4 层镀层（另加底材）和 15 种元素的镀层厚度测试，自动修正 X 射线重叠谱线

▪ 多元素辨识，广泛覆盖元素周期表上从钛（22 号）到铀（92号）各元素

使用能量色散 X 射线荧光（EDXRF）技术, X-Strata920 可实现如下测试要求：

▪ 符合 ISO3497 标准测试方法：金属镀层—X 射线光谱法测量镀层厚度

▪ 符合 ASTM B568 标准测试方法：X 射线光谱仪测量镀层厚度，包括金属和部分非金属镀层

▪ 至多同时分析 25 种元素

日立镀层测厚仪

井深式、开槽式样品仓设计

▪ “井深式”样品仓设计，可以测量很小到很大的广泛尺寸的样品/零件 ，可测量样品高度不超过 160mm (6.3”)。样品台支架可放置在“深井”中的 4 个位置的卡槽上，使得不同样品都可以方便地测量。

▪ 样品台支架放置在标准位置时，就是“开槽式样品仓”，可以测量大型平板样品，如尺寸大于仪器宽度的印制线路板。所有样品可以很方便地放置并定位到待测点。

▪ Z 轴自动控制（Z 向行程：43mm/1.7”）

▪ 样品仓内部尺寸：152 x 279 x 508mm (6 x 11 x 20") (高 x 宽 x 深 D)

简洁、坚固、耐用的设计

▪ 经实践验证、坚固、耐用的设计，可在大多数严苛的工业条件下使用。

▪ 空间占用小 –节约宝贵的工作台空间，也可近产线放置。

▪ 计算机提供 USB 和网络接口用于连接打印机、光驱和网络。