Bruker/布鲁克 品牌
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布鲁克X射线荧光光谱仪(XRF)是一种非破坏性分析工具,利用X射线激发样品中的原子,测量其荧光发射光谱来确定化学元素的组成。它适用于工业、科研、教育等多个领域的样品分析,具有快速、准确、灵活的特点。
布鲁克XRF光谱仪通过发射高能X射线照射样品,使样品中的原子受到激发。被激发的原子释放荧光X射线,不同元素的荧光波长和强度具有特性。仪器通过检测这些特性,从而识别样品中的元素种类并计算其含量。
非破坏性检测:无需对样品进行复杂处理,保持样品的完整性。
元素覆盖范围广:能够分析从钠(Na)到铀(U)的元素。
定量与定性分析:既能快速识别元素种类,又能精准测量浓度。
检测限低至ppm级别,适用于痕量元素分析。
利用优化的光路和高灵敏度探测器,确保对轻、中、重元素的精准检测。
适用于多种样品形态:块状、颗粒、粉末、液体等。
无需复杂的样品制备,即可快速完成测量。
配备直观的软件界面,用户可快速上手。
自动化进样系统支持批量分析,显著提高效率。
采用高寿命X射线光管,运行成本低,维护简单。
专有的SampleCare™技术提供全面防护,减少污染对设备的影响。
金属与合金:快速分析钢铁、铜、铝等金属材料的化学成分。
水泥与建材:检测氧化物组成,确保产品符合质量标准。
石油化工:精确测定油品中的硫、氯等元素含量。
矿石样品中的主量和微量元素检测,为矿产开采和加工提供数据支持。
地质研究中岩石和沉积物的成分分析。
测试塑料和聚合物中的添加剂及微量重金属含量。
用于涂层厚度及均匀性检测。
检测土壤、水样中的污染物含量。
分析电子产品中的有害物质(如RoHS标准中的铅、镉)。
用于材料表面微区的元素分布分析。
支持多学科交叉研究,如化学、物理和生物学。
分辨率高,适用于复杂样品的高精度分析。
可分析轻、中、重元素,特别适合科研和工业生产控制。
紧凑型设计,适合小型实验室和现场使用。
测量速度快,操作便捷,适用于多领域快速分析。
便于携带,用于现场检测和实时分析。
常应用于地质勘探、文物保护和废料回收等领域。
布鲁克为用户提供仪器全生命周期的技术支持,包括:
安装调试:确保仪器在用户现场稳定运行。
技术培训:帮助用户熟悉仪器操作与分析方法开发。
维护与升级:提供预防性维护,定期更新软件和硬件功能。
布鲁克X射线荧光光谱仪以其高精度、灵活性和多样化的应用领域,成为化学成分分析的重要工具。无论是在科研实验室还是工业生产线上,其稳定的性能和智能化设计都为用户提供了高效可靠的解决方案。