PSEL劳厄衍射系统

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2024-11-18 13:17:24
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北京盈思拓科技有限公司

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产品简介

该设备利用背衍射法探测材料的晶体结构，常用于单晶定向、测定晶体对称性、表征晶体的成晶质量等

详细介绍

        该设备利用背衍射法探测材料的晶体结构，常用于单晶定向、测定晶体对称性、表征晶体的成晶质量等。支持实时成像和累计曝光两种工作模式，最长曝光时间达30分钟，最短可至毫秒。空间分辨率高、用户界面直观。



┃ 设备特点


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