应力双折射仪有哪些主要原理呢
时间：2024-06-28 阅读：246
应力双折射现象的产生是由于物质的光学性质是随着物质内部应力的改变而改变的。在应力作用下，物质内部的折射率会发生变化，导致光线发生折射现象时速度的改变。在某些情况下，当光线入射到物质中时，会产生两个方向的偏振光，这就是应力双折射现象。
应力双折射又称光弹性效应。透明的各向同性的介质在压力或张力的作用下，折射率特性会发生改变，从而显示出光学上的各向异性。若介质本来就是各向异性晶体，则外力作用会使它产生一个附加的双折射。塞贝克在1813年和布儒斯特在1816年研究这一现象。对物体施以压力或张力，它就显示出负单轴晶体或正单轴晶体的特性，有效光轴在应力方向上，并且所引起的双折射与应力成正比。若应力在晶体上是不均匀的，在各处的双折射就不一致，使通过它的光波上不同点产生不同的位相差。利用应力双折射效应，可以检验光学材料的内应力，观察各种力学结构的应力分布。
原理：
1.应力导致材料的晶格畸变，而晶格畸变又会影响材料内部的折射率。当受到应力作用时，材料的折射率将变化，形成双折射现象。
2.在应力双折射仪中，通过将材料制成单晶片，然后将其放置在两个相互垂直的偏光片之间。
3.通过调节偏光片的相对位置，使得原本通过晶片的线偏光在第二个偏光片上通过时成为圆偏光。
4.当施加应力于晶片时，由于应力导致的晶格畸变，晶片的折射率发生变化线偏光通过晶片后不再是圆偏光，而变成了椭圆偏光。
5.测量椭圆偏光的参数，如振幅或相位差，可以得到材料中的应力信息。