EyeTechEyeTech 激光光阻粒度粒形分析仪

EyeTech激光光阻粒度粒形分析仪能够精确测量样品尺寸、粒形和浓度，形成完整的颗粒大小表征。光阻技术（LOT）与视频分析生成的综合信息，结果可以显示在大量的表格和图表中，可以自定义以显示所需的信息，可通过直观的数据报告软件访问。这项技术提供了令人兴奋的优点组合：测量是在单个颗粒上进行的，因此分辨率远高于传统衍射法；与传统其他方法不同，测量系统无需校准，并且重要的是测量结果不依赖与被测样品的物 参考价面议

ZetaPlus型Zeta电位仪

ZetaPlus Zeta电位仪是简单、方便而且准确的电泳迁移率测量仪器，其开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有很高的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。它的革新之处是从根本上消除了传统Zeta电位测量仪器中固有的电渗误差的影响，从而使测量变得准确而方便。 参考价面议

ZetaPALS高灵敏度Zeta电位仪

高灵敏度Zeta电位仪是目前能够精确测量低电泳迁移率体系的Zeta电位分析仪器，它采用的是真正的硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，比其它测量Zeta电位的技术灵敏度高约1000倍！ 参考价面议

BI-2010/2020粘度/示差检测器

BI-2010粘度/示差检测器采用全新技术的毛细管全桥式设计，具有高灵敏、低展宽、低噪音和节约测量时间等特点，其温控可从室温达到80℃。利用BI-2010可得到特征粘度，示差检测器样品进行同样校正，从而得到真实分子量和结构信息。特征粘度的检测结合Mark－Houwink曲线，得到分子机构如枝接密度，共聚组成信息。 参考价面议

Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪

Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪*结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，拥有15°、90°与173°三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，硬件PALS技术*解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精确测量，是目前市场上功能Z 参考价面议

173Plus多角度粒度分析仪

173Plus多角度粒度分析仪*结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术，拥有15°、90°与173°三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，实现在同一台粒度分析仪中，即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，是一款功能强大的粒度分析仪。 参考价面议

90Plus PALS高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪

90Plus PALS高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪是目前*能够精确测量低电泳迁移率体系Zeta电位的仪器，它采用的是真正的硬件PALS（相位分析光散射）技术，比其它测量Zeta电位的技术灵敏度高约1000倍！ 参考价面议

BI-90Plus亚微米激光粒度分析仪

90Plus亚微米激光粒度分析仪基于动态光散射原理，是一种快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。 参考价面议

BI-200SM广角动静态激光光散射仪

广角动静态激光光散射仪采用TurboCorr数字相关器，通过动态光散射的方法可以测量小至1nm的纳米颗粒分布情况，通过静态光散射的方法可测量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲线、分子量、均方根回旋半径及第二维里系数。多角度激光光散射仪经国内外众多实验室使用，证明BI-200SM是研究聚合物、胶束、微乳液以及复杂溶液等体系理想的测试仪器。 参考价面议

TurboCorr数字相关器

TurboCorr数字相关器是对取得巨大成功的BI-9000的全面更新：它使用了的DSP技术，令体积大为缩小。与其前一代产品相比，TurboCorr随着功率的大幅降低与USB端口的应用，使得全套系统有了突出的便携性与兼容性，可为笔记本电脑控制。 参考价面议

BI-DNDC示差折射仪

BI-DNDC示差折射仪按测量方式区分：在静态方式下是测量聚合物溶液dn/dc值的仪器。采用注射器（2～2.5mL）直接进样，样品溶液浓度范围0.1～10mg/mL。BI-DNDC在动态方式下作为凝胶色谱系统的在线示差检测器。采用进样阀进样，由蠕动泵或HPLC泵驱动。 参考价面议

BI-MwA多角度激光光散射仪（分子量测定）

基于多年光散射技术和经验开发研制的BI-MwA多角度激光光散射（分子量测定）仪对光散射仪器进行了开创性的革新，解决了分子量测定中存在的诸多问题，使得分子量表征更加客观与可靠。 参考价面议