用Agilent 7890A GC微板流路控制技术同时分析乙烯原料中的痕量氧化物和烃类杂质
时间：2009-02-17 阅读：1283
- 用Agilent 7890A GC微板流路控制技术同时分析乙烯原料中的痕量氧化物和烃类杂质
乙烯中存在的痕量烃类物质会严重影响过程催化剂和zui终聚合物产品质量。如ASTMD6159的分析方法用于测定这些原料的质量[1]。然而，其它重要污染物如氧化物的分析需要在另一台仪器上运行GC方法。这对于过程分析实验室来说，既费时、成本又高。
Agilent 7890A GC是分析乙烯中不同种类的痕量化合物的理想平台。通过下列措施可实现zui高的分析效率：
• 使用微板流路控制技术通过2-D Deans Switch色谱在一次运行中分析痕量氧化物和烃类
• 使用新的辅助电子气路控制模块（EPC）使制备多级校准标样自动化
• 通过防止极性氧化物进入色谱柱保护了昂贵的PLOT柱和保持高的灵敏度