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日本日置HIOKI元器件测量仪

上海胜雁电子有限公司

2010/10/18 0:11:57

日本日置HIOKI元器件测量仪:

日本日置LCR测试仪器型号选择:

阻抗分析仪IM3570
LCR测试仪 3535
LCR测试仪 3532-50
 
LCR测试仪 3522-50
LCR测试仪 3511-50
 
 
  • 测量|Z|LCR
  • 测量频率4Hz~5MHz
  • 测量时间:0.5ms
  • 同时进行扫频测量和LCR测量
 
 
  • 测试|Z|, L, C, R
  • 测试源频率100kHz120MHz
  • 高速测量: 6ms
 
 
  • 测试|Z|, L, C, R
  • 测试源频率42Hz5MHz
  • 高速测量: 5ms
 
 
  • 测试|Z|, L, C, R
  • 测试源频率DC, 1mHz100kHz
  • 高速测量: 5ms
 
 
  • 测试|Z|, L, C, R
  • 测试源频率120Hz1kHz
  • 高速测量: 5ms
 
 
 
 
 
 
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