济南震旭电子科技有限公司
2017/3/15 8:35:58涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:
1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢\铁\银\镍.此种方法测量精度高 .
2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量.此种方法较磁性测厚法精度低.
3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的国外个别厂家有这样的仪器适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵\测量精度也不高.
4.电解测厚法:此方法有别于以上三种不属于无损检测需要破坏涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦.
5.放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上)适用于一些特殊场合. 国内目前使用zui为普遍的是第1两种方法。
常规涂层测厚仪的原理:
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和标准中称为覆层（coating）。 覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的*手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。 覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。 随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用zui广泛的测厚仪器。
采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。
测量原理与仪器
CEM华盛昌DT-156涂镀层测厚仪
【产品描述】
DT-156涂镀层测厚仪探头可以在电磁感应和涡流两种原理下工作。在自动模式（AUTO）下，两种原理可视测量的基体自动转换，或可通过菜单进行自动模式和非自动模式转换。
CEM华盛昌DT-156涂镀层测厚仪【产品特性】
1、可测量涂镀层： 任何磁性物质表面的非磁性涂镀层厚度；任何非磁性金属表面的绝缘涂镀层厚度
2、易于操作的菜单设计
3、连续和单次测量方式
4、直接工作模式和组工作模式
5、可统计并显示：平均值、zui大值、zui小值、标准方差、统计数
6、非常方便的进行一点或两点校准
7、可保存320个测量数据
8、USB传输数据至计算机分析统计
9、实时删除测量数据和组数据
10、高低限报警
11、低电和错误提示可设置的自动关机功能
CEM华盛昌DT-156涂镀层测厚仪【技术指标】
传感器探头 | 铁磁性 | 非铁磁性 |
工作原理 | 磁感应 | 涡流 |
测量范围 | 0~1250um | 0~1250um |
| 0~49.21mil | 0~49.21mils |
误差 | 0~850 um (+/- 3%+1um) | 0~850 um(+/- 3%+1.5um) |
(相对当前读数) | 850um~1250um (+/- 5%) | 850um~1250 um (+/- 5%) |
| 0~33.46 mils (+/- 3%+0.039mils) | 0~33.46mils (+/- 3%+0.059mils) |
| 33.46um~49.21mils (+/- 5%) | 33.46um~49.21mils (+/- 5%) |
精度 | 0~50um (0.1um) | 0~50um (0.1um) |
| 50um~850um(1um) | 50um~850um(1um) |
| 850um~1250um(0.01mm) | 850um~1250um(0.01mm) |
| 0~1.968mils (0.001mils) | 0~1.968mils (0.001mils) |
| 1.968mils~33.46mils(0.01mils) | 1.968mils~33.46mils(0.01mils) |
| 33.46mils~49.21mils(0.1mils) | 33.46mils~49.21mils(0.1mils) |
单位换算：
1、mil（PCB或晶片布局的长度单位）：1 mil =千分之一英寸，1mil = 0.0254mm。
2、um有时也做微米（单位）使用，1mm（毫米）=1000um（微米) 1um=1000nm(纳米）。
使用方法
1、工作模式：
1-1.AOTO：探头根据待测物体性质(铁磁性物质或非铁磁性金属)自动转入相应工作模式。如果待测物体是铁镍等磁性金属物质，探头将转入磁感应原理工作模式；如果待测物体时非磁性的金属物质，探头将转入涡流原理工作模式。
1-2.Fe：探头将是磁感应原理工作模式。
1-3.No-Fe：探头将是涡流原理工作模式。
2、直接测量(DIR)：开机默认为此模式。用于快速随意测量。在此模式下，测量数据会临时保存在内存中，可以通过菜单浏览所有已存数据和统计值，但一旦关机、系统掉电或从直接测量模式切换到组工作模式，这些数据将会丢失。此模式下，zui多可统计80个数据，超出的读数将替换zui旧读数并保存更新统计值。
3、组测量(GR01～GR04)：每一组工作模式下，系统可保存zui多80个数据，5个统计值。关机和掉电，所有保存值不会丢失，并且组与组之间相互独立不受影响，需要删除保存的值，可通过菜单操作进行。当测量数据超出80个，数据测量可以继续进行，但是所有数据将不被保存和统计计算。如有需要，可通过菜单删除组数据。
4、读数浏览：通过“Measurement view”菜单项，浏览当前工作组所有测量读数。
5、测量中的统计数据：厚度统计数据可统计80个读数(GR01～GR04总共zui多可存储4*80=320个读数)。此外，在DIR模式除了读数不存储外，其他和GRO模式相同。
NO.：开机以来进行统计的读数个数
AVG：平均值
Sdev：标准方差
MAX：zui大读数
MIN：zui小读数
包装清单:
涂镀层测厚仪*1使用说明书 *1合格证 *1电池*2硬盒*1彩盒*1 USB连接线缆*1软件CD*1探头*1钢铁基体*1铝块基体*1标准薄片*2
