LED LM-80复叠式老化测试系统（半导体型）-重庆
本机是根据IES LM-80标准，针对LED灯珠测试中的老化测试项目而研发的一款机台，具有Ts Ta双路温度独立控制，测试区湿度控制等功能，单一区间内多路模组独立控制，半导体电制冷恒温，双向PID功率调节输出，并可无缝配合积分球测试的全新一代老化测试系统。
LED LM-80复叠式老化测试系统（半导体型）-重庆
设备特点
环境温度：能够有效控制LED灯珠老化的环境温度，即周围空气温度Ta。
湿度显示：能够做到Ts,Ta温度及湿度实时显示功能。
TS制：能够控制每一颗LED灯珠的TS。
TA制：能够控制周围空气温度Ta，并满足LM-80的TA不低于TS-5℃
温度测试：在厂家位置TS的情况下，能够对每一颗LED灯珠的壳温度进行在线实时监测。
远程监测：能够对每一颗LED灯珠的TS,TA进行在线实时监测，并且传输给远程电脑，做到数据同步和备份。
电流控制：每一颗LED灯珠由独立恒流电流源供电，可单独控制输出电流值，并满足LM-80的±3%的偏差要求。
时间采集：对于每一组LED灯珠被点亮的老化时间采集，并且符合LM-80老化时间±0.5%的偏差要求。
控制备份：有主从备份计算机，即可实现数据备份，也可实现控制备份。
过温保护：具备完善可靠的温度故障保护停机功能。
模块结构：整体式造型，便于安装、拆卸，采用快速接口，安装方便，提高工作效率。
适用种类：电路板安装形式（直接将灯珠放置在模块上测试）或夹具安装形式（将灯珠放置在夹具上测试）。
结构特点：低噪音、安全无泄漏、低成本、维护便捷、性能稳定。
LED LM-80复叠式老化测试系统（半导体型）-重庆
型号
型号 | UFL-8014C HxD（mm） | UFL-8024C HxD（mm） | UFL-8034C HxD（mm） |
内部尺寸 | 400X400X660 | 400X400X660 | 400X400X660 |
外部尺寸 | 1250X810X1000 | 1250X1310X1000 | 1250X1810X1000 |
LED LM-80复叠式老化测试系统（半导体型）-重庆
温度、湿度、环境参数
温度范围 | 常温+5℃~150℃ |
环境湿度 | ≤65%H |
温度解析度 | 0.01℃ |
温度控制精度 | ±1.5℃ |
波动度 | ≤±0.5℃ |
测试时间和间隔 | ≥6000hrs,每隔1000小时采集一次数据，建议初始会测试数据频率密集（0,24,48,120,480,1000……） |
条件 | Case的温度TS=55℃,85℃,T3rd(在规定外用户自选温度) |
环境的温度TA | Ta≥Ts-5℃测试距Case正上方1.5mm空气中温度 |
内箱风速 | ＜0.3m/s |
测试容量 | 根据客户产品尺寸及功率大小不同，测试容量不同 |
数据采集、远程监控参数
采集器配备 | 采用YOKOGAWA MW100数据采集器，根据机器选型的不同可分别配置20、30、40、60通道的采集器（也可根据客户要求配备） |
高速测量 | 10ch/1s,60ch/1s(1个主单元内)高速测量：zui短测控周期为1ms |
多测量周期 | 一个主单元可以混合三种测试周期，zui大可支持2G的CF卡，（在60ch/100 ms时可连续采集数据约10天，60ch/1s时可连续采集约3个月） |
采集器特点 | MW100本体带有开/关按钮，既可独立采集数据，也可以利用以太网和浏览器软件在PC上进行实时监视，通过网络采集数据，MW100r数据输入输出范围广，可支持高速测量，同时具有很强的抗干扰性，即使在恶劣环境中也可以完成测量工作。 |
采集时间分辨率 | 10ms~500ms |
电源参数
通道数 | 标配40通道（选配zui大可达1000个） |
电流量程 | 0-1A,0-10A,0-20A以上 |
通道间连接方式 | 通道间可以并联以增大电流 |
老化电流精度 | 老化测试时输入电流应控制在额定电流的±3% |
测试电流精度 | 光学测试时输入电流应控制在额定电流的±0.5% |
LED LM-80复叠式老化测试系统（半导体型）-重庆
电压表参数
电压量程 | 0-150V(选配可达40V) |
分辨率 | 0.1V
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LED LM-80复叠式老化测试系统（半导体型）-重庆
